ICC訊 Santec最新推出的的基于光頻域反射(OFDR)技術的光器件鏈路分析儀SPA-100，采樣分辨率高達5um，得益于Santec高精度、160nm寬波長調諧范圍的激光器。5um高采樣分辨率能力，可以幫助研發人員分析各種精密光子系統的空間分布和故障，縮短研發時間。

  典型的應用場景

  1、硅光子器件事件分析

  硅光子器件一般是會包含硅光芯片和其他芯片的混合集成器件，這樣的混合器件中，光鏈路中總會有一些事件點，可能會造成光學性能的的差異。如何精確得知這些故障點以及性能呢?SPA-100可以幫助到你。

  2、光學鏈路分析

  在一些較長的光學傳感鏈路中，也會有不同的事件點，如何精確得知具體哪一個事件出現故障或者性能的劣化，就需要OFDR的分析儀來進行監測, 通常這種鏈路中，OTDR的分辨率是不能滿足測試要求的。

  3、芯片耦合過程中距離監測

  光探針在逐漸靠近硅光芯片或者晶圓進行耦合的過程中，可能會因為接觸而造成芯片或者晶圓的損傷，Santec 的OFDR 在探測性能的同時還提供額外的距離探測的功能，最大限度提高耦合效率并保護芯片和晶圓。

  4、WDL 性能分析

  SPA-100 提供2個測試端口一個端口用于OFDR分析，另一個端口可以同時掃描得到透射光譜，分析各種波長相關性測試指標。160nm的波長范圍，高達70dB的動態范圍。

  得益于Santec高精度、160nm寬波長調諧范圍的激光器，Santec的OFDR 分析儀可以達到業內領先水平，能夠更好的助力高精度硅光子器件的研發過程。

  同時，Santec 的OFDR 儀表設計充分考慮了客戶的投資，光器件鏈路分析儀SPA-100可以配合客戶現有的Santec可調諧激光器(TSL-770,TSL-570,TSL-710,TSL-550)完成上述各種場景的測試。

  關于產品詳情可瀏覽官網：https://www.santec.com.cn/