ICC訊 第49屆光網絡與通信研討會及博覽會(OFC) 正在美國加州圣地亞哥會展中心舉行。歡迎蒞臨EXFO #1017展位了解如下創新解決方案！

  光子集成電路（PIC）

  EXFO具有獨特的專利測試能力，在業績處于領先地位

  從測試條形、裸片、晶圓級或封裝元件，到通過對無源和有源光學元件進行高精度光譜表征來有效地將光傳送到器件上，EXFO的解決方案將精度和自動化相結合，幫助企業應對當今的挑戰。

  本次OFC  EXFO會展示我們的兩種元件測試解決方案，歡迎蒞臨 1017展位一探究竟:

  · 光子集成電路 (PIC) 的自動測試將在獨特的新型多裸片測試探針臺 OPAL-MD 上進行展示。該測試站可對多個芯片進行順序自動測試，動態調整測試條件、參數和結果處理。

  · 我們的 CTP10 元件測試平臺簡化了光譜測試，減少了設置時間，并允許輕松重新配置測試，以包括 PDL、回波損耗甚至光電流。

  800G/1.6T測試方案

  EXFO為高速系統提供完整的從電到光的測試

  我們的模塊化 400G、800G 和 1.6TB 解決方案可提供機架式或便攜式配置，為客戶的測試程序帶來極致的速度和靈活性。

  解決方案包括

  · FTBx-88800 系列：實驗室 800G 測試解決方案（光學、DCO 和 LPO）

  -首款支持 800G ZR 收發器的緊湊型便攜式驗證工具

  -1x800G、2x400G、8x100G 客戶端和 400G/800G DCO

  -鏈路訓練功能

  -800G 多端口，包括 OSFP 和 QSFP-DD 測試端口

  · BA-4000-L2 流量和比特分析儀：用于研發和制造的 800G/1.6T 測試儀（L2 流量、L1 誤碼率)

  -利用 L2 幀進行 BERT，用于 IEEE 802.3dj FECi 和 FECo 誤碼率測試

  -實時流量 FEC 分析

  -信號質量極佳的本地電子接口

  -強大的 RX EQ、CTLE、32 分路 FFE+DFE

  EXFO還在本次OFC與眾多行業創新者聯合展示綜合解決方案，歡迎關注！